Описание ультразвукового дефектоскопа Хамелеон 32+
Ультразвуковой дефектоскоп на фазированных решетках (ФР) с цифровой фокусировкой сигнала, автоматическим определением координат залегания и размеров дефектов. Применяется для контроля качества металлических и композиционных материалов в нефтегазовой сфере, атомной энергетике, машиностроении, на транспорте и в других отраслях промышленности.
Дефектоскоп оснащен современными IT средствами управления и визуализации с возможностью поддержки стандартного и специализированного периферийного оборудования.
Хамелеон 32+ имеет блочную компоновку аппаратной и экранной части, что существенно расширяет область применения — в качестве портативного устройства (моноблока) или составного модуля промышленной установки.
Функциональные особенности
Ультразвуковой дефектоскоп на фазированных решетках Хамелеон 32+ с помощью ФАР преобразователей, пьезоэлектрических многоэлементных, расширяет возможности ультразвукового контроля, позволяет максимально быстро и информативно проводить контроль с получением изображения дефекта в плоскости санирования.
Хамелеон 32+ имеет адаптивное программное обеспечение, позволяющее быстро менять законы распространения ультразвуковой волны и фокусировки. Программное обеспечение позволяет проводить настройку контроля в полуавтоматическом режиме, имеет функции авторазмер и автопротокол, позволяющие формировать протокол контроля в PDF файл и мгновенно отправлять его в диспетчерский пункт по связи GSM.
Функциональные возможности Хамелеон 32+
- выявлять дефекты типа несплошности и неоднородности (трещины, поры, расслоения, включения и т.п.);
- измерять координаты залегания и размеры дефектов;
- измерять толщину изделий и определять их коррозионный износ.
Основные технические параметры
- 32 независимых канала (0,3÷20 Mhz)
- Диапазон углов ввода от 0 до 90°
- Рабочий диапазон усиления до 80 дБ;
- Поддержка разверток: A, B, C, D, L, S
- Геолокация: GPS, ГЛОНАСС
- Интерфейсы: USB, LAN, GSM
Хамелеон 32+ оснащен современными средствами управления и визуализации с возможностью поддержки различного периферийного оборудования (томографические сканеры, флеш-накопители, gps-приемники, средства интернет коммуникаций и др). При подключении сканера – осуществляет запись пройденного пути (B-scan) с получением координатной развертки. Длительная автономная работа и защищенный корпус рассчитаны на работу в полевых условиях.
Эксплуатационные параметры
- Габаритные размеры, не более: 260×290×140 мм
- Общая масса, не более: 5 кг
- Аккумуляторная батарея, встроенная: 12 В, 20 А/ч (10 часов работы)
- PC планшет: 11″, 1280х720 px
- Климатический диапазон: -50 +50 Градусов Цельсия
Технические характеристики
Наименование характеристики | Значение |
Номинальное значение амплитуды импульсов ГИВ, В | 50,100,150,200 |
Площадь минимально выявляемого дефекта, мм | 21,0 |
Максимальное значение длительности развертки | Мкс 250 |
Диапазон регулировки усиления, дБ | От 0 до 80 с шагом 0,5 |
Погрешность определения амплитуды сигнала, дБ | 1,0 |
Диапазон углов ввода, град. | 0-90 |
Диапазон установки длительности зондирующих импульсов, нс | от 10 до 1000 с шагом 4 |
Диапазон настройки задержек возбуждения элементов ФР, нс | от 0 до 40000 с шагом 5 |
Общее число фокальных законов | 2048 |
Питание от встроенного аккумулятора, не менее, ч | 10 |
Габаритные размеры дефектоскопа, мм, не более | 260×290×140 |
Масса дефектоскопа, кг, не более | 6,0 |
Условия эксплуатации: температура окружающего воздуха, °С относительная влажность воздуха при температуре +25°С, % | от-50до+50 до 95 (без конденсации) |
Средний срок службы, лет, не менее | 5 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений глубины залегания дефекта и/или толщины изделий в диапазоне от 10 до 400 мм, мм | ±(0,3+0,01·Н0), гдеH0 – измеренное значение глубины залегания дефекта и/или толщины изделия, мм |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений расстояния от передней грани преобразователя до проекции дефекта на поверхность сканирования в диапазоне от 10 до 100 мм, мм | ±(0,3+0,01·L), где L– измеренное значение расстояния от передней грани преобразователя до проекции дефекта на поверхность сканирования |